透射電子顯微鏡（TEM）是一種電子顯微鏡。觀察目標的電子束尋址到已被透射通過所述電子束該類型的電子顯微鏡從強度觀察透射率在觀察對象的空間分布為電子。在某些情況下，從樣本中利用電子的波動特性從電子衍射（電子衍射）產生的干涉圖像中觀察到待觀察對象的結構。廣泛用于物理、化學、工程、生物學、醫學等。

由于將電子施加到觀察目標并通過水印進行觀察，因此將目標切割得盡可能薄（厚度為100 nm或更小），或者將其薄薄地施加在傳輸電子的薄膜上。由于電子束的透射量根據被攝體的結構和構成成分而不同，因此透射電子的密度根據位置而變化，因此成為顯微鏡圖像。

圖像通過使用電磁線圈，以觀察哪些反射針對其發光的熒光屏幕當電子束擊中的專用放大透射電子束負片或CCD照相機與相片由或拍獲得。

盡管它在開發之初僅限于工程應用，但自1950年代以來一直在生物學領域積極使用。這主要是由于切片方法（金剛石刀的鋪展），樣品制備和電子染色方法（重金屬增加了樣品的對比度）的改進。

由于普通透射電子顯微鏡的加速電壓約為100 kV，因此樣品必須足夠薄。因此，它不適用于三維觀察。為了克服該缺點，必須增加加速電壓。具有這種規格的電子顯微鏡是超高壓電子顯微鏡。

超高壓電子顯微鏡是加速電壓為1000kV以上的電子顯微鏡，通過提高電子束的透射率，可以觀察到比以往的透射型電子顯微鏡厚約10倍（約5μm）的切片。我可以?結果，可以容易地進行三維觀察。為了獲得較高的加速電壓，該設備非常龐大（高度8m，重量17t），無法在常規實驗室中安裝。因此，日本（截至2003年）只有16臺超高壓電子顯微鏡。