• 化學力顯微鏡

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    化學力顯微鏡

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    化學力顯微鏡(CFM)是一種掃描探針顯微鏡

    結構首次由Lieber等人于1994年發表,并在接觸模式原子顯微鏡(AFM)配置(例如摩擦力顯微鏡)中用于獲取樣品表面形狀和摩擦力分布的信息?。

    化學力顯微鏡

    使用懸臂,其中探針的尖端被官能團(例如疏水性CH?3基團或親水性COOH基團)覆蓋,在樣品表面上與化學物質的官能團(例如疏水性CH?3或親水性COOH)相互接觸可視化因作用而產生的摩擦力差異的分布信息。當探針尖端表面和樣品表面的組合不同時,兩者之間的相互作用程度也不同,并且相同的親水性?COOH基團的組合產生xxx的內聚力,而不同的疏水性?CH?3基團和親水性不同。在功能性COOH基團的組合中,內聚力最小,內聚力的差異在相互作用力的二維分布圖像中可見

    化學力顯微鏡用法

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    • 評估表面被官能團覆蓋的樣品
    • 評估表面有有機物質的樣品

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    2. 化學力顯微鏡用法

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