近場光學顯微鏡
編輯近場光學顯微鏡（MO-SNOM）是掃描近場光學顯微鏡的一種形式。
一種掃描近場光學顯微鏡（SMOM），用于可視化樣品表面的形狀和磁通量分布。
用于分析磁性材料中磁光效應引起的光的偏振度的光學系統已添加到透射SNOM中。入射的激光束通過聲光調制器（AOM）以15 kHz的頻率閃爍，然后用偏振器線性偏振，然后在安裝有探頭的懸臂背面引導到單模光纖探頭。有反射器，使用光xxx法探針-進行控制采樣距離，探針是在振蕩用聲光調制器的閃爍同步地（AOM）的壓電元件是通過振動。
光從在探頭的頂端處的開口不與樣本傳輸之后偏轉成分的干擾發射的分色鏡被改變光路，在樣品內法拉第效應受到偏振分量（磁旋光）被檢偏器分開，穿過僅透射激光波長分量并去除噪聲光的濾光器，光強度通過光電倍增管轉換成電信號，再通過鎖相放大器轉換成探頭在激勵信號和同步檢測信噪比得到改善[。用XY工作臺對樣品表面進行二維掃描，并繪制鎖相放大器的輸出以獲得磁光圖像，同時，使用光xxx方法從探針樣品控制信號中檢測樣品表面。可以獲得形狀圖像。
近場光學顯微鏡功能
編輯用法
- 的Pt / Co?人工晶格薄膜，如磁光盤上記錄的磁性薄膜的磁圖案的觀測
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