靜電力顯微鏡
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一種掃描探針顯微鏡，用于可視化樣品表面的形狀和靜電力的分布。一種表面電勢測量系統，可以掃描幾mm?2的寬區域，同時具有10μm的空間分辨率，并且可以在大氣壓下進行高精度測量。可以使用多個掃描探針顯微鏡測量樣品上的靜電力分布，但是在非接觸原子力顯微鏡（NC-AFM）格式中，鎳探針用作儀器探針，尖端直徑為5μm。長度為560μm，一端彎曲90度，并且有一個探針部分，長度為50μm。探針的位移是光纖使用干涉儀在測量。樣品是絕緣體，例如樹脂或無機化合物，在通過高壓脈沖電源從探頭施加電壓并給樣品表面充電而產生的靜電力測量時，不與探頭接地。通過用原子力顯微鏡掃描來測量。在區域不帶電范德華力是在被檢測到，在靜電力的充電梯度的一個區域上的力梯度檢測。
靜電力顯微鏡用法
編輯- 檢測靜電力分布
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