摩擦力顯微鏡
編輯摩擦力顯微鏡（FFM）或水平力顯微鏡（LFM）是一種掃描探針顯微鏡。
用于接觸模式原子力顯微鏡（AFM）配置中，以獲取有關樣品表面形狀和摩擦力分布的信息。
掃描方向懸臂移動的長度方向垂直設置為階段探針和樣品表面之間的摩擦，從而扭曲懸臂發生激光通過光照射4分割光檢測器反射的光束的左側和右側的小區之間的光強度差，用于獲取在如此產生的FFM圖像。當懸臂由于樣本表面的不平坦而上下移動時，在4分割光電檢測元件中會產生上下單元之間的光強度差異，該光檢測元件用于獲取AFM圖像。結果，可以同時獲取代表表面摩擦力分布的FFM圖像和代表表面不規則性的AFM圖像。
摩擦力顯微鏡應用
編輯- 材料開發
- 表面檢查
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