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掃描洛倫茲力顯微鏡
編輯掃描洛倫茲力顯微鏡將磁場施加到樣品上，并且根據弗萊明左手定則，懸臂式探頭會因樣品表面上產生的洛倫茲力而發生扭曲?。
該結構基于接觸型原子力顯微鏡（AFM），并添加了將交流電壓施加到探頭的電氣系統和用于信號檢測的鎖定放大器系統。
當電流i（t）在垂直于磁場B的方向上流動時，電流流動是因為根據弗萊明左手定律，在與磁場和電流流動所產生的平面垂直的方向上產生了洛倫茲力F（t）。探針部分的下面的等式長度為L保持。
F（t）= L xi（t）x B
掃描洛倫茲力顯微鏡通過接觸式原子力顯微鏡測量洛倫茲力F（t），并且使用導電懸臂/探針使交流電通過，從而在樣品表面產生漏磁場。洛倫茲力F（t）是由在探頭磁場中流動的電流產生的，從而引起懸臂的扭轉，并將其施加到類似于摩擦力顯微鏡（水平力顯微鏡）的光學xxx位移檢測器上。使用象限光電檢測元件進行測量。從懸臂的偏轉獲得正常的AFM圖像。
掃描洛倫茲力顯微鏡應用
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