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什么是納米機電系統質譜儀
編輯納米機電系統質譜儀(NEMS-MS)是一種儀器通過檢測由在所述顆粒的吸附的頻移測量分析物顆粒的質量NEMS諧振器。
NEMS-MS是由加利福尼亞理工學院的Michael Roukes教授和Kamil?Ekinci博士于1999年發明的。 在2001年的專利公開中首次記錄了原子序圖尺度質量敏感性。
加州理工學院的研究人員報道了連續的NEMS-MS靈敏度里程碑,這些出版物分別于2004年(折線圖標度靈敏度)和2006年(折線圖標度靈敏度)出現。 他們隨后在2009年開發了單分子分析。該小組于2012年首次完成了單生物分子質量測量。2015年報告了一種混合NEMS-MS / TOF-MS儀器
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