傳輸線脈沖（TLP）是研究靜電放電（ESD）事件的電流和時域中的集成電路技術和電路性能的一種方法。第二次世界大戰后不久，第175-189頁的《脈沖發生器》（Vol。MIT輻射實驗室系列的第5部分。此外，D.布拉德利，J.希金斯，M. Key和S.馬宗達實現用于精確可變定時的脈沖千伏在1969年基于TLP-激光觸發火花隙ESD對于調查和電過應力（EOS）的影響T. Maloney和N. Khurana于1985年首先引入了使用TLP發生器的測量系統。從那時起，該技術已成為集成電路ESD保護開發不可缺少的技術。

傳輸線脈沖技術基于將長的浮動電纜充電至預定電壓，然后將其放電至待測設備（DUT）。電纜放電模擬靜電放電事件，但是采用時域反射儀（TDR），可以根據時間xxxDUT阻抗的變化。

xxx個商業TLP系統是由Barth Electronics在1990年代開發的。從那時起，已經開發了其他商業系統（例如，Thermo Fisher Scientific、Grundtech、ESDEMC Technology、High Power Pulse Instruments、Hanwa、TLPsol）。

傳輸線脈沖的一個子集VF-TLP（超快速傳輸線脈沖）最近以其改進的分辨率和帶寬來分析短暫ESD事件（例如CDM（帶電設備模型）事件）而廣受歡迎。VF-TLP由學術界（伊利諾伊大學）開創，并由Barth Electronics商業化，已成為分析現代高速半導體電路的重要ESD分析工具。

ANSI / ESD STM5.5.1-2016靜電放電敏感性測試–傳輸線脈沖（TLP）–組件級別

ANSI / ESD SP5.5.2-2007靜電放電敏感性測試-極快的傳輸線脈沖（VF-TLP）-組件級別

IEC 62615：2010靜電放電敏感性測試-傳輸線脈沖（TLP）-組件級別