邊界掃描是一種測試印刷電路板或集成電路內部子塊上的互連（線路）的方法。 邊界掃描也被廣泛用作調試方法，以觀察集成電路引腳狀態、測量電壓或分析集成電路內部的子模塊。

聯合測試行動小組 (JTAG) 制定了邊界掃描測試規范，該規范于 1990 年標準化為 IEEE 標準。 1149.1-1990。 1994 年，添加了一個包含邊界掃描描述語言 (BSDL) 描述的補充，它描述了 IEEE Std 1149.1 兼容設備的邊界掃描邏輯內容。 此后，該標準被世界各地的電子設備公司所采用。 邊界掃描現在主要是 JTAG 的同義詞。

邊界掃描架構提供了一種無需使用物理測試探針即可測試互連（包括邏輯集群、存儲器等）的方法； 這涉及添加至少一個測試單元，該單元連接到設備的每個引腳，并且可以選擇性地覆蓋該引腳的功能。 每個測試單元都可以通過 JTAG 掃描鏈進行編程，以將信號驅動到引腳上，從而穿過電路板上的單個跡線； 然后可以讀取電路板走線目標處的單元格，驗證電路板走線是否正確連接了兩個引腳。 如果走線與另一個信號短路或走線開路，則正確的信號值不會出現在目標引腳上，表明存在故障。

為了提供邊界掃描功能，IC 供應商向他們的每個設備添加額外的邏輯，包括每個外部跡線的掃描單元。 然后將這些單元連接在一起以形成外部邊界掃描移位寄存器 (BSR)，并結合 JTAG 測試訪問端口 (TAP) 控制器支持，包括四個（或有時更多）附加引腳和控制電路。

一些 TAP 控制器支持片上邏輯設計塊之間的掃描鏈，JTAG 指令在這些內部掃描鏈而不是 BSR 上運行。 這可以讓這些集成組件像電路板上的獨立芯片一樣進行測試。 片上調試解決方案是此類內部掃描鏈的重度用戶。

這些設計是大多數 Verilog 或 VHDL 庫的一部分。 這種額外邏輯的開銷很小，而且通常非常值得在電路板級實現高效測試。

對于正常操作，添加的邊界掃描鎖存單元被設置成它們對電路沒有影響，因此實際上是不可見的。 然而，當電路被設置為測試模式時，鎖存器使數據流能夠從一個鎖存器轉移到下一個鎖存器。 一旦一個完整的數據字被轉移到被測電路中，它就可以被鎖存到位，以便驅動外部信號。 移位字通常還會從配置為輸入的信號中返回輸入值。

由于這些單元可用于將數據強制輸入電路板，因此它們可以設置測試條件。 然后可以通過計時數據字將相關狀態反饋回測試系統，以便對其進行分析。

通過采用這種技術，測試系統有可能獲得對電路板的測試訪問權。 由于當今的大多數電路板都非常密集地填充了組件和軌道，因此測試系統很難物理訪問電路板的相關區域以使其能夠測試電路板。 邊界掃描使訪問成為可能，而無需始終需要物理探測器。

在現代芯片和電路板設計中，可測試性設計是一個重要問題，一個常見的設計工件是一組邊界掃描測試向量，可能以串行向量格式 (SVF) 或類似的交換格式提供。

設備通過一組輸入和輸出引腳與世界通信。 就其本身而言，這些引腳提供了對設備工作情況的有限可見性。 然而，支持邊界掃描的設備為設備的每個信號引腳包含一個移位寄存器單元。 這些寄存器連接在設備邊界周圍的專用路徑中（因此得名）。

該路徑創建了一種虛擬訪問功能，可繞過正常輸入并提供對設備的直接控制和其輸出的詳細可見性。 邊界掃描的內容通常由制造商使用特定于零件的 BSDL 文件來描述。

除其他事項外，BSDL 文件將描述通過邊界掃描中暴露的引腳或球（取決于芯片封裝）暴露的每個數字信號，作為邊界掃描寄存器 (BSR) 定義的一部分。