可測試性設計或可測試性設計 (DFT) 包括將可測試性功能添加到硬件產品設計的 IC 設計技術。 添加的功能使開發和應用制造測試到設計的硬件變得更加容易。 制造測試的目的是驗證產品硬件不包含可能對產品的正常運行產生不利影響的制造缺陷。

測試應用于硬件制造流程中的幾個步驟，對于某些產品，還可以用于客戶環境中的硬件維護。 測試通常由使用自動測試設備 (ATE) 執行的測試程序驅動，或者在系統維護的情況下，在組裝的系統內部執行。 除了發現和指示缺陷的存在（即測試失敗）之外，測試還可以記錄有關遇到的測試失敗的性質的診斷信息。 診斷信息可用于定位故障源。

換句話說，將良好電路的矢量（模式）響應與 DUT（被測設備）的矢量響應（使用相同模式）進行比較。 如果響應相同或匹配，則電路良好。 否則，電路不會按預期制造。

DFT 在測試程序的開發以及作為測試應用程序和診斷的接口方面發揮著重要作用。 如果實施了適當的 DFT 規則和建議，自動測試模式生成或 ATPG 會容易得多。

DFT 技術至少從電氣/電子數據處理設備的早期就開始使用。 1940 年代/50 年代的早期示例是允許工程師掃描（即，有選擇地探測）模擬計算機中某些內部節點的電壓/電流 [模擬掃描] 的開關和儀器。 DFT 通常與設計修改相關聯，這些設計修改提供對內部電路元件的改進訪問，以便可以更輕松地控制（可控性）和/或觀察（可觀察性）本地內部狀態。 設計修改本質上可以是嚴格物理的（例如，向網絡添加物理探測點）和/或添加有源電路元件以促進可控性/可觀察性（例如，將多路復用器插入網絡）。 雖然內部電路元件的可控性和可觀察性改進對于測試來說肯定很重要，但它們并不是 DFT 的xxx類型。 例如，其他指南涉及被測產品和測試設備之間接口的機電特性。 例如，探測點的大小、形狀和間距的指南，或者為連接到探測網絡的驅動器添加高阻抗狀態的建議，以降低反向驅動造成損壞的風險。

多年來，該行業已針對所需和/或強制性 DFT 電路修改開發并使用了各種或多或少詳細且或多或少正式的指南。 在現代微電子電子設計自動化 (EDA) 的背景下，對 DFT 的共同理解在很大程度上取決于商業 DFT 軟件工具的功能以及 DFT 工程師研究、開發的專業社區的專業知識和經驗 ，并使用此類工具。 許多相關的 DFT 知識都集中在數字電路上，而模擬/混合信號電路的 DFT 在某種程度上處于次要地位。

DFT 影響并取決于用于測試開發、測試應用和診斷的方法。

當今業界實踐的大多數工具支持的 DFT，至少對于數字電路而言，都是基于結構測試范例的。 結構測試不會直接嘗試確定電路的整體功能是否正確。 相反，它會嘗試確保已根據結構網表中指定的一些低級構建塊正確組裝電路。

例如，是否所有指定的邏輯門都存在、運行正確且連接正確？ 規定是，如果網表是正確的，并且結構測試已確認電路元件的正確組裝，那么電路應該可以正常工作。

請注意，這與功能測試有很大不同，功能測試試圖根據其功能規范驗證被測電路的功能。 這與確定網表指定的電路是否符合功能規范的功能驗證問題密切相關，假設它是正確構建的。

結構范例的一個好處是，測試生成可以專注于測試有限數量的相對簡單的電路元件，而不必處理功能狀態和狀態轉換呈指數級增長的多樣性。 雖然測試一個任務