太赫茲無損檢測
編輯太赫茲無損檢測涉及發生在太赫茲電磁輻射領域的設備和分析技術。 這些設備和技術可以在不造成損壞的情況下評估材料、組件或系統的特性。
太赫茲成像
編輯太赫茲成像是一種新興且重要的無損評估 (NDE) 技術,用于制藥、生物醫學、安全、材料表征和航空航天工業中的介電(不導電,即絕緣體)材料分析和質量控制。 事實證明,它在檢查油漆和涂料層、檢測陶瓷和復合材料的結構缺陷以及對繪畫和手稿的物理結構成像方面非常有效。 使用太赫茲波進行無損評估可以檢查多層結構,并可以識別異物夾雜物、脫粘和分層、機械沖擊損壞、熱損壞以及水或液壓油滲入等異常情況。 這種新方法可以在許多材料表征應用行業中發揮重要作用,其中精確厚度映射(以確保產品內部和產品之間的產品尺寸公差)和密度映射(以確保產品和產品中的產品質量) 從產品到產品)是必需的。
無損評估
編輯傳感器和儀器在 0.1 至 10 THz 范圍內用于無損評估,包括檢測。
太赫茲密度厚度成像儀
太赫茲密度厚度成像儀是一種無損檢測方法,它使用太赫茲能量對電介質、陶瓷和復合材料進行密度和厚度測繪。 這種非接觸式單面太赫茲電磁測量和成像方法可表征介電(絕緣)材料的微觀結構和厚度變化。 該方法已針對航天飛機外部儲罐噴涂的泡沫絕緣材料進行了演示,并被設計用作當前和未來 NASA 熱保護系統和其他介電材料檢查應用的檢查方法,在這些應用中,由于以下原因無法與樣品接觸 脆性,使用超聲波方法是不切實際的。
旋轉光譜學
旋轉光譜學使用頻率范圍為 0.1 至 4 太赫茲 (THz) 的電磁輻射。 該范圍包括毫米范圍的波長,對化學分子特別敏感。 由此產生的太赫茲吸收產生了一種獨特且可重復的光譜模式,可以識別材料。
太赫茲波雷達
太赫茲波雷達可以探測氣體泄漏、化學品和核材料。 在現場測試中,太赫茲波雷達從 60 米外檢測到了 10 ppm 水平的化學物質。 該方法可用于在任何天氣下晝夜工作的柵欄線或飛機安裝系統。 它可以定位和跟蹤化學和放射性羽流。 可以感知核電站放射性羽流的太赫茲波雷達已經根據空氣中輻射引起的電離效應探測到幾公里外的羽流。
太赫茲層析成像
太赫茲斷層掃描技術是一種非破壞性方法,可以使用太赫茲脈沖束或毫米范圍的源來定位 3D 對象。 這些技術包括斷層掃描、斷層合成、合成孔徑雷達和飛行時間。 這種技術可以在幾十厘米大小的物體中解析出小于一毫米尺度的細節。
被動/主動成像技術
安全成像目前是通過主動和被動方法完成的。 有源系統用太赫茲輻射照射對象,而無源系統僅觀察對象自然產生的輻射。
顯然,被動系統本質上是安全的,而有人認為任何形式的人體輻射都是不可取的。
使用主動照明光源的目的主要是為了使信噪比更好。 這類似于當環境照明水平太低時在標準光學相機上使用閃光燈。
出于安全成像目的,工作頻率通常在 0.1 THz 至 0.8 THz(100 GHz 至 800 GHz)范圍內。 在這個范圍內,皮膚是不透明的,因此成像系統可以透過衣服和頭發看到,但不能看到身體內部。 此類活動存在隱私問題,尤其是在活動系統周圍,因為活動系統具有更高質量的圖像,可以顯示非常詳細的信息。
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