• 霍爾效應

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    霍爾效應

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    霍爾效應是橫跨導體的電壓差(霍爾電壓)的產生,該電壓差橫向于導體中的電流和垂直于電流的外加磁場。 它是 Edwin Hall 于 1879 年發現的。

    霍爾效應也可能發生在半導體或金屬板中的空隙或孔中,當電流通過位于空隙或孔的邊界或邊緣的觸點注入時,電荷流到空隙或孔之外,在 金屬或半導體。 這種霍爾效應在電壓觸點的垂直施加磁場中變得可觀察到,電壓觸點位于連接電流觸點的線兩側的空隙邊界上。 與簡單連接樣本中的標準普通霍爾效應相比,它表現出明顯的符號反轉,并且僅取決于從空隙中注入的電流。

    霍爾效應也可以實現疊加:首先想象標準霍爾配置,一個簡單連接的(無空隙)薄矩形均勻霍爾板,在(外部)邊界上具有電流和電壓觸點,它在垂直方向上產生霍爾電壓 磁場。 接下來,想象在這個標準霍爾配置中放置一個矩形空隙或孔,如上所述,在空隙的內部邊界上具有電流和電壓觸點。 為簡單起見,在標準霍爾配置中,空隙邊界上的電流觸點可以與外部邊界上的電流觸點對齊。 在這樣的配置中,可以在同一個雙連接設備中同時實現和觀察到兩個霍爾效應:外邊界上的霍爾效應與僅通過外邊界注入的電流成正比,而明顯的符號反轉 內部邊界上的霍爾效應與僅通過內部邊界注入的電流成正比。 多個霍爾效應的疊加可以通過在霍爾元件內放置多個空隙來實現,電流和電壓觸點位于每個空隙的邊界上。

    霍爾系數定義為感應電場電流密度和外加磁場的乘積之比。 它是制造導體的材料的一個特性,因為它的值取決于構成電流的電荷載流子的類型、數量和特性。

    為清楚起見,原始效果有時被稱為普通霍爾效應,以區別于其他霍爾效應,后者可能具有額外的物理機制,但建立在這些基礎之上。

    發現

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    現代電磁學理論由詹姆斯·克拉克·麥克斯韋 (James Clerk Maxwell) 在論文《物理力線》(On Physical Lines of Force) 中系統化,該論文于 1861 年至 1862 年間分四部分發表。雖然麥克斯韋的論文為電磁理論奠定了堅實的數學基礎,但詳細的機制 該理論仍在探索中。 其中一個問題是關于磁鐵和電流之間相互作用的細節,包括磁場是與導體相互作用還是與電流本身相互作用。 1879 年,埃德溫·霍爾 (Edwin Hall) 在馬里蘭州巴爾的摩的約翰霍普金斯大學攻讀博士學位時,正在探索這種相互作用,并發現了霍爾效應。 在電子被發現之前的 18 年,他對所用儀器產生的微小效應的測量是一項實驗杰作,并以“關于磁體對電流的新作用”的名義發表。

    霍爾效應

    理論

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    霍爾效應是由于導體中電流的性質造成的。 電流由許多小電荷載流子的運動組成,通常是電子、空穴離子(參見電遷移)或三者兼而有之。 當存在磁場時,這些電荷會受到一種力,稱為洛倫茲力。 當沒有這樣的磁場時,電荷在與雜質、聲子等的碰撞之間大致沿著直線路徑運動。但是,當施加具有垂直分量的磁場時,它們在碰撞之間的路徑是彎曲的,因此移動的電荷會聚集在一個面上 的材料。 這使得等量和相反的電荷暴露在另一面,那里缺乏移動電荷。 結果是霍爾元件上的電荷密度分布不對稱,這是由垂直于直線路徑和施加的磁場的力引起的。 電荷的分離建立了一個電場來阻止電荷的進一步遷移,因此只要電荷在流動,就會建立一個穩定的電勢

    經典電磁學中,電子沿電流 I 的相反方向移動(按照慣例,電流描述了理論空穴流)。 在某些金屬和半導體中,似乎空穴實際上在流動,因為電壓方向與下面的推導相反。

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